华英中天专注粉末，粉体，颗粒
----测量与分析仪器解决方案。
咨询电话：133-1142-6617（同微信）
（同微信）
PY63110系列全自动四探针测试仪
一.功能描述：
四点探针法，全自动化运行测量系统，PC软件采集和数据处理；参照A.S.T.M 标准方法测试半导体材料电阻率和方块电阻；可设定探针压力值、测试点数、多种测量模式选择；真空环境，可显示：方阻、电阻率、显示2D,3D扫描/数值图、温湿度值、提供标准校准电阻件. 报表输出数据统计分析.
二.适用范围
晶圆、非晶硅/微晶硅和导电膜电阻率测量；选择性发射极扩散片；表面钝化片；交叉指样PN结扩散片；新型电极设计，如电镀铜电阻测量等；半导体材料分析，铁电材料，纳米材料，太阳能电池，LCD，OLED，触摸屏等.
三.技术参数：
规格型号
PY63110A
PY63110B
1.电阻
10^-5～2×10^5Ω
10^-6～2×10^5Ω
2.方块电阻
10^-5～2×10^5Ω/□
10^-6～2×10^5Ω/□
3.电阻率
10^-6～2×10^6Ω-cm
10-7～2×106Ω-cm
4.测试电流
0.1μA.μA.0μA，100µA，1mA， 10mA，100mA
1A、100mA、10mA、1mA、100uA、10uA、1uA、0.1uA
5.电流精度
±0.1%
6.电阻精度
≤0.3%
7.PC软件操作
PC软件界面：电阻、电阻率、电导率、方阻、温度、单位换算、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、2D、3D图谱、压力、
报表生成等
8.压力范围选购：
探针压力可调范围：软件控制,100-500g可调
9.探针
针间绝缘电阻：≥1000MΩ；机械游移率：≤0.3%
圆头铜镀金材质，探针间距1mm；2mm；3mm选配，其他规格可定制
10.可测晶片
尺寸选购
晶圆尺寸：2-12寸（6寸150mm，12寸300mm）；
方形片：大至156mm X 156mm 或125mm X 125mm
11.分析模式
单点、五点、九点、多点、直径扫描、面扫描等模式的自动测试
12.加压方式
测量重复性：重复性≤3%
13.安全防护
具有限位量程和压力保护;误操作和急停防护;异常警报
14.测试环境
真空
15.电源
输入: AC 220V±10%.50Hz 功 耗：<100W
16.选购项目
电脑和打印机
（选购）
